主要用途：

信号测试台主要用于遥外测系统的中心程序器、采编器、接口控制器、中间装置等设备的单元测试，实物下如图所示：

性能指标：

测试台主要功能包括： 

1）模拟量及开关量输出功能； 

 a．低压模拟量输出 

 b．高压模拟量输出 

 c．开关量输出 

2）模拟量及开关量测量功能； 

3）1553B仿真功能； 

4）数字量通讯功能； 

 a．与接口控制器通讯功能 

 b．与采编器通讯功能 

 c．与中心程序器通讯功能 

性能指标: 

（1）模拟量及开关量输出功能 

1）低压模拟量输出 

通道数量：32路 

信号种类：直流、正弦波、三角 

波、锯齿波、方波可设置 

信号幅度：-1V～7V 

信号频率：方波为1～10KHz可调， 

其余为1～10Hz可调 

驱动能力：单路电流≥20mA 

直流电压：精度优于1%，纹波≤ 

40mVp-p 

2）高压模拟量输出 

通道数量：共8路 

输出电压：每路可按照 36V、34V、30V、28V、26V、14V、 12V、0V共8个台阶调节 

驱动能力：单路电流≥20mA 

电压精度：优于1%，纹波≤40mVp-p 

接地方式：8路相互隔离 

3）开关量输出 

16路28V有源开关量输出 

16路5V有源开关量输出 

16路无源开关量输出

（2）模拟量及开关量测量功能 

测量类型： 

① 2路相互隔离的0～32V直流电压 

② 6路共地的0～32V直流电压 

③ 8路共地的0～5.5V直流电压 

④ 2路共地的直流电压（1路为 

0～+13V，一路为：-13～0V） 

⑤ 2路共地的直流电压（1路为 

0～+13V，一路为：-13～0V） 

⑥ 2路高速脉冲串测量（光电隔离， 

422电平） 

⑦ 6路28V开关量测量 

⑧ 11路继电器触点测量 

采样率: 路采样率均＞20kHz 

测量精度：优于1% 

①、②、③、④、⑤之间相互浮地，全部 

隔离测量 

（3）1553B仿真功能 

工作方式：模拟BC和6个以上的RT 

接口要求：具有BM接口，输出采用双冗余变压器进行耦合隔离 

（4）数字量通讯功能 

1）与接口控制器通讯功能 

性能要求：同时模拟导引头图像、无线备份、星敏感器，输出三路信号给接口控制器，另外再接收一路接口控制器输出的信号。 

a）导引头图像信号 

通讯接口：LVDS 

通讯速率：200Mbps 

b）无线备份信号 

通讯接口：同步422 

通讯速率：1.8432Mbps与 1.96608Mbps两种码率可选 

c）星敏感信号

通讯接口：异步422 

通讯协议：标准UART，具体格式为： 

1位起始位、8位数据位、1位停止位， 

无奇偶校验位 

d）接收接口控制器信号 模拟存储器接口接收接口控制器发送 的LVDS信号。 

2）与采编器通讯功能 

性能要求：完成对采编器的单元测试，分别模拟LVDS无线备份、中程， 输出两路信号给采编器；模拟存储器接收一路无线备份2（或中程）的数据 （至存储器接口2）；接收一路采编器 

输出的本采数据信号

3）；接收一路采编器输出的头遥无线 备份数据信号。 

a）中程信号 

模拟中心程序器发送PCM数据给采编器。 

电平标准：TTL电平，具有字同步、位 同步、信号地等 

通讯速率：1.8432Mbps与 1.96608Mbps两种码率可选 

b）无线备份数据 模拟测量系统给采编器发送无线备份 数据2，PCM码流。 

通讯接口：LVDS

通讯速率：1.8432Mbps与1.96608Mbps两 

种码率可选 

c）头遥无线备份数据 模拟中心程序器读取采编器数据。 

通讯接口：3路RS485输出，1路RS485输 

入，1路RS422输入 

d）无线备份2（或中程）至存储器2数据 模拟存储器接收无线备份（或中程）的数据，PCM码流。 

通讯接口：LVDS 

通讯速率：1.8432Mbps与1.96608Mbps两种码率可选 

e）采编器本采数据模拟存储器接收采编器的数据。 

通讯接口：LVDS 

通讯速率：20Mbyte/s 

f）Hotlink数据输出 

通道数据：2路 

通讯接口：Hotlink 

通讯速率：20MHz 

3）与中心程序器通讯功能模拟发射机接收中心程序器PCM数据 

解调码率：1.8432Mbps、1.96608Mbps两种可切换 

性能要求：子帧长度、副帧长度、子帧同步码、副帧同步码、搜索帧数、校核帧数、锁定帧数通过上位机软件设置。

应用情况：

地面测试台作为存储器的专用测试设备，已成功应用于多个型号多个批次存储器的研制及生产任务，确保了各类各批次存储器在研制生产过程中测试的全面性，提高了存储器的研制及测试效率，缩短了存储器的研制周期